표면거칠기 구성 요소 (Surface Roughness Components)
1. Overview
표면 거칠기는 단일한 요철 특성이 아니라, 측정된 형상 프로파일(Profile)를 여러 단계로 분해하여 해석한 결과이다.
실제 측정된 표면 프로파일에는
이 모두가 중첩되어 포함되어 있으며, 세분화된 프로파일 분석을 통해 각 구성 요소를 분리하여 평가할 수 있다.
이러한 분해 과정에 따라 표면 거칠기는 Form, Waviness, Roughness, Micro-Roughness의 네 가지 구성 성분으로 구분되며, 이 요소들을 목적에 맞게 조합하여 효과적인 품질 관리에 활용할 수 있다.
2. 프로파일(Profile)의 구성 개념
측정된 표면 프로파일은 다음과 같은 관계를 가진다.
즉, 하나의 측정 데이터 안에는 서로 다른 파장과 주파수 대역의 표면 특성이 동시에 존재한다.

Figure 1. 측정된 표면 프로파일을 형태, 파형 및 거칠기 구성 요소로 분해한 결과
3. 프로파일의 네 가지 구성 성분
3.1 형상 (Form)
Form은 표면 프로파일을 구성하는 요소 중 가장 긴 파장을 가지는 저주파 성분으로, 표면 구성 요소의 가장 마지막 단계에 해당한다.
👉 Form은 일반적인 표면 거칠기 평가에서는 제거 또는 분리 대상이 되는 경우가 많다.
3.2 파상도 (Waviness)
Waviness는 표면 프로파일에서 수평 위치에 따라 완만하게 변화하는 중간 파장 성분이다.
👉 Waviness는 단순 거칠기 수치(Ra)만으로는 충분히 평가하기 어려운 성분이다.
3.3 거칠기 (Roughness)
Roughness는 표면 프로파일에서 수평 위치에 따라 급격히 변화하는 고주파 성분이다.
👉 Ra, Rq, Rz 등의 대표적인 거칠기 파라미터는 이 Roughness 영역을 대상으로 계산된다.
3.4 미세 거칠기 (Micro-Roughness)
Micro-Roughness는 표면 조직 중 가장 작은 스케일의 구성 요소로,
등에 의해 형성된다.
👉 광학 부품, 반도체, 정밀 박막 공정에서는 Micro-Roughness가 성능에 직접적인 영향을 미친다.
4. 파장 스케일에 따른 표면 구성 요소 구분
표면 구성 요소는 공간 파장(spatial wavelength) 기준으로 다음과 같이 구분된다.

5. 표면 거칠기 구성 요소 정리
표면 거칠기 측정은 단일 수치를 비교하는 것이 아니라, 프로파일을 구성하는 각 성분을 목적에 맞게 해석하는 과정이다.
이 네 가지 요소를 적절히 조합함으로써 제품 요구 사양에 맞는 최적의 품질 관리 전략을 수립할 수 있다.

Summary
표면 거칠기는 하나의 개념이 아니라, 다중 스케일 표면 구성 요소의 집합이다.
정확한 표면 평가를 위해서는
이 필수적으로 요구된다.